Pomiar den­sytometryczny pola pełnego (apli) oraz pola rastrowego pozwala na określenie procen­towego pokrycia. Przydatny staje się tu wzór Murray’a-Davies’a.

S=((1–10^(-Dr) )/(1–10^(-Dv) )*100%

gdzie:
Dr  — gęstość optyczna pola rastrowego
Dv — gęstość optyczna pola pełnego (apli)

Wynik z tego wzoru określa się mianem pokrycia pozornego.

W przy­padku konieczności uzyskania rzeczywistego pokrycia stosuje się modyfikację powyższego wzoru znaną jako wzór Youle’a-Nielsen’a

S=((1–10^(-Dr) )/(1–10^(-Dv) )*n*100%

gdzie:
Dr  — gęstość optyczna pola rastrowego
Dv — gęstość optyczna pola pełnego (apli)
n — współczynnik Youle’a-Nielsen’a

Współczynnik ten zwykle przyj­muje wartość od 0 do 4. Gdy wynosi 1 oba wzory dają ten sam wynik. Najczęściej rekomen­dowaną wartością jest 1,7 [Pearson, Milton, ”n” Value for General Conditions, TAGA Proceedings, 1980, pp. 415–425]

Zwiększając współczynnik Y-N w używanym den­sytometrze otrzymamy mniej­sze wartości pokrycia rastrowego, a zmniejszając jego wartość, pokrycie będzie większe. Aby ustalić optymalną wartość współczynnika dla danego podłoża należałoby dokładnie znać rzeczywiste pokrycie rastrowe (zmierzone planimetrem lub skanerem CCD do płyt) a następnie tak dostosować jego wartość aby używany den­sytometr pokazywał iden­tyczną wartość pokrycia rastrowego.

Przyrost punk­tów rastrowych definiuje się jako różnicę procen­towego pokrycia na mierzonym polu i wartości zadanej. Np. typowy przy­rost dla papieru powlekanego błyszczącego (typ 1) wg zaleceń normy ISO 12647–2 wynosi 15%, czyli pole o zadanym pokryciu 50% powinno na wydruku uzyskać zmierzoną wartość pokrycia pozor­nego 65%.